삼성전자 등 반도체 소자업체가 최근 휴대폰 및 디지털카메라용 플래시 메모리 생산량을 대폭 늘리자 반도체 검사장비개발업체들이 플래시 메모리의 내열성을 전문적으로 검사하는 번인(burn-in)테스터를 앞다퉈 개발하고 나서 장비 수주전이 치열해질 전망이다.

　1일 관련업계에 따르면 테스텍이 지난해 플래시 메모리용 번인테스터를 국내 최초로 개발, 삼성전자에 공급한 데 이어 디아이·프롬써어티 등 후발업체도 연내 제품을 개발해 소자업체에 공급한다는 방침이다.

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